要 旨
低温感受性の高い青果物の障害発生を青果物の電気的特性から考察するため、キュウリ果実の電気伝導度を連続測定し低温障害との関連性を調べた。銅線電極を用いて低温貯蔵中のキュウリ果実の電気伝導度を連続的に測定したところ、電気伝導度は障害発生時に増加する傾向を示した。また電解質漏出割合も障害の発生時期と関連して変化した。本研究で得られた結果から、低温感受性の高い青果物において電気伝導度は低温障害の発生に関連した指標になることが示唆された。キーワード：低温障害, 電気伝導度, 電解質漏出割合, キュウリ果実, 銅線電極